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產(chǎn)品分類
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：德國布魯克BRUKER
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select的基本核心測試模塊，包括納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和原位SPM成像。 納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select使用電容式傳感器技術(shù)，提供高靈敏度和低熱漂移，在納米到微米尺度上實(shí)現(xiàn)可靠的表征。 直觀控制軟件和操作，讓操作員實(shí)現(xiàn)技術(shù)人員級的可靠測量。
詳情介紹：

納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select精選是自動化臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)，可提供同類儀器的*高性能、多功能和易用性。這種新型測試系統(tǒng)以布魯克有名的TriboScope電容式傳感器技術(shù)為設(shè)計(jì)，在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select精選 支持*主流的測試模式，是定量納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價(jià)比解決方案。


納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select - 高精度力學(xué)特性

描述局部微結(jié)構(gòu)、界面、微小表面特征和薄膜的彈性模量、硬度、蠕變、應(yīng)力松弛和斷裂韌性。

原位 SPM 成像 - 實(shí)現(xiàn)**的納米力學(xué)表征

利用同一探頭對樣品表面進(jìn)行原位三維形貌成像，與納米力學(xué)測試一起，實(shí)現(xiàn)**的納米力學(xué)表征、數(shù)據(jù)可靠性和納米級精度的定位。

力學(xué)性能成像 - 快速成像和快速數(shù)據(jù)采集

納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select提供高速測試功能，比傳統(tǒng)的納米壓痕測試速度快 180 倍。以每秒兩次納米壓痕測試的測試速度，在幾分鐘內(nèi)獲得不均勻材料的高分辨率力學(xué)性能分布圖。

磨損測試 - 定量納米級耐磨性

定量磨損體積和磨損率可以測量為施加的接觸力、滑動速度和重復(fù)次數(shù)的函數(shù)。由于測試的尺度很小，可以方便地測量單個微結(jié)構(gòu)、接口和薄膜的摩擦性能。

動態(tài)納米壓痕 -深度分析，粘彈性特性

動態(tài)納米壓痕將一個小振蕩力分量疊加在準(zhǔn)靜態(tài)力上，以連續(xù)測量硬度和模量，作為對材料表面深度的函數(shù)。動態(tài)納米壓痕選項(xiàng)包括針對動態(tài)測量和控制器的專門優(yōu)化，可為測試深度、頻率和時(shí)間的函數(shù)提供**的結(jié)果。

納米劃痕 - 摩擦、耐磨性和薄膜結(jié)合力

納米劃痕利用靜電驅(qū)動二維傳感器以受控方式施加正常力，同時(shí)測量在樣品表面橫向移動**所需的力。納米劃痕選項(xiàng)不依賴于電動樣品臺的橫向運(yùn)動，提供市場上*敏感和可靠的納米級摩擦和薄膜結(jié)合力測量。

簡化系統(tǒng)操作和數(shù)據(jù)分析

布魯克的 TS 精選的控制和分析軟件包專門為優(yōu)化測量過程而開發(fā)：從裝載樣品和測試設(shè)置到測量執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析。納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select精選的控制軟件集成了自動樣品測試和儀器校準(zhǔn)程序，用于簡單、高通量和準(zhǔn)確表征。


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